1       产品简介

在开发新的发光材料过程中，提高它们的光致发光效率是至关重要的。提高该效率就需要测量量子效率的精确技术。

QES-PL光致发光量子效率测量系统针对器件的光致发光特性进行有效测量，其深制冷型背照式CCD具有高的灵敏度和信噪比，可以更加稳定快速得到结果。涂有PTFE涂料的积分球，光谱范围覆盖200-1100nm。可以支持粉末、薄膜和液体样品的测量，Spectralon涂料在全谱波段拥有的高反射率，可以完全匀化入射光，去掉积分球反射不均匀对结果的影响，此系统能用于多种领域，包括工业、生物和学术研究等。

2       系统配置

1）高功率氙灯

2）单色仪

3）积分球

4）液体采样支架

5）光纤光谱仪

6）3根光纤

7）绝对辐射标准光源（附带计量证书，绝对辐照度测量所需，另购）

3       规格参数

#光谱范围可根据用户需求进行定制

4       测试项目

Ø  量子效率测量

Ø  颜色指标、辐射指标与量子指标

Ø  标准灯校准绝对辐射

5       产品特点

Ø  测量精度高：采用深度制冷型面阵CCD的光纤光谱仪作为探测器，极大降低长积分时间下噪声水平，提高测量精度。

Ø  操作简单： Uspectral Plus专业光谱采集分析软件，一键式操作。

Ø  功能齐全：可用于粉末、溶液、固体、薄膜样品的测量。

6       应用领域

Ø  无机光致发光

Ø  有机光致发光

Ø  EL器件封装前体

7       操作软件